HOME > 論文 > 書誌詳細High-Resolution Electron Microscopy Observation of Defects in 180MeV Cu"+ Ion-Irradiated Bi2Sr2CaCu2O8 Crystals.B.Chenvier, 池田省三, KUMAKURA, Hiroaki, 戸叶一正, 岡安悟, 数又幸生, B.Chenvier, 池田省三, 戸叶一正, 岡安悟, 数又幸生. Japanese Journal of Applied Physics 31 . 1992.NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 11:33:20 +0900更新時刻: 2018-12-15 00:53:45 +0900
