RBS-PIXEによる高温超伝導薄膜の評価
(RBS-PIXE Analysis on Thin Films of HTC Oxide Superconductors)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2016-05-24 11:35:20 +0900 更新時刻: 2018-12-14 22:15:33 +0900