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電子収量分光(PYS)スペクトルからの自動閾値推定 -残差分析による自動分析範囲の推定-
(Automatic Threshold Estimation from Photoelectron Yield Spectroscopy (PYS) - Automatic Estimation of Analysis Range by Residual Analysis -)

著者柳生 進二郎, 吉武 道子.
掲載誌名Journal of Surface Analysis 27 [1] 15-21
ISSN: 13478400, 13411756
出版社一般社団法人 表面分析研究会
発表年2020
言語Japanese
DOIhttps://doi.org/10.1384/jsa.27.15
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