HOME > 論文 > 書誌詳細Laser assisted atom probe analysis of thin film on insulating substrate(絶縁性基板上の薄膜のレーザー補助アトムプローブ解析)M. Kodzuka, T. Ohkubo, K. Hono. Ultramicroscopy 111 [6] 557-561. 2011.https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2010.11.008 NIMS著者大久保 忠勝宝野 和博Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2018-06-08 21:04:32 +0900 更新時刻: 2026-10-03 05:42:26 +0900
