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著者名Masayuki Fukuzawa, Masayoshi Yamada, Md. Rafiqul Islam, Jun Chen, Takashi Sekiguchi.
タイトルQuantitative Photoelastic Characterization of Residual Strains in Grains of Multicrystalline Silicon
掲載誌名Journal of Electronic Materials 39 6 700 703
ISSN: 03615235 1543186X
発表年2010
言語English
DOI10.1007/s11664-010-1164-x
ESIでのカテゴリMATERIALS SCIENCE
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