SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 論文 > 詳細

論文の表示

著者名Yoshiyuki Yamashita, Hideki Yoshikawa, Toyohiro Chikyo, Keisuke Kobayashi.
タイトル(Invited) Direct Observation of Electronic States in Gate Stack Structures: XPS under Device Operation
掲載誌名ECS TRANSACTIONS 41 331-336
ISSN: 19385862
発表年2011
言語English
ESIでのカテゴリ
DOIhttps://doi.org/10.1149/1.3633313
この文献をMendeleyにインポートMendeley

▲ページトップへ移動