Defects Analysis of Diamond Films in Cross Section Using Cathodoluminescence and High Resolution Transmission Electron Microscop
(カソードルミネッセンスと透過電顕を使ったダイヤモンド薄膜断面の欠陥解析)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻 :2016-05-24 11:45:00 +0900 更新時刻 :2020-11-16 23:18:13 +0900