カソードルミネッセンスと透過電顕を使ったダイヤモンド薄膜断面の欠陥解析

D. Takeuchi; H. Watanabe; S. Yamanaka; H. Sawada; H. Ichinose; T. Sekiguchi; H. Okushi; Daisuke Takeuchi; Hideyuki Watanabe; Sadanori Yamanaka; Hidetaka Sawada; Hideki Ichinose; Takashi Sekiguchi; Hideyo Okushi; D. Takeuchi; H. Watanabe; S. Yamanaka; H. Sawada; H. Ichinose; T. Sekiguchi; H. Okushi; Daisuke Takeuchi; Hideyuki Watanabe; Sadanori Yamanaka; Hidetaka Sawada; Hideki Ichinose; Takashi Sekiguchi; Hideyo Okushi

doi:10.4028/www.scientific.net/ssp.78-79.197

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Defects Analysis of Diamond Films in Cross Section Using Cathodoluminescence and High Resolution Transmission Electron Microscop
(カソードルミネッセンスと透過電顕を使ったダイヤモンド薄膜断面の欠陥解析)

D. Takeuchi, H. Watanabe, S. Yamanaka, H. Sawada, H. Ichinose, SEKIGUCHI, Takashi, H. Okushi, Daisuke Takeuchi, Hideyuki Watanabe, Sadanori Yamanaka, Hidetaka Sawada, Hideki Ichinose, Takashi Sekiguchi, Hideyo Okushi.

Solid State Phenomena 78-79 197-204. 2001.

https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/ssp.78-79.197

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Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2016-05-24 11:45:00 +0900 更新時刻: 2026-11-04 05:14:33 +0900

Defects Analysis of Diamond Films in Cross Section Using Cathodoluminescence and High Resolution Transmission Electron Microscop(カソードルミネッセンスと透過電顕を使ったダイヤモンド薄膜断面の欠陥解析)

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Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

Defects Analysis of Diamond Films in Cross Section Using Cathodoluminescence and High Resolution Transmission Electron Microscop
(カソードルミネッセンスと透過電顕を使ったダイヤモンド薄膜断面の欠陥解析)