「ラボラトリＥＸＡＦＳのための高強度ー低電圧ｘ線源」(Rev.Sci.Instrum.64,2702(1993)) へのコメント

Commento on "High intensity low tube-voltage X-ray source for laboratory Extended X-ray Absorption Fine Structure measurements"
(「ラボラトリＥＸＡＦＳのための高強度ー低電圧ｘ線源」(Rev.Sci.Instrum.64,2702(1993)) へのコメント)

著者	桜井健次, 桜井仁, Kenji Sakurai, Hitoshi Sakurai.
掲載誌名	Review of Scientific Instruments 65 [7] 2417-2418
出版社
発表年	1994
言語	English
DOI	https://doi.org/10.1063/1.1144701
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