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Commento on "High intensity low tube-voltage X-ray source for laboratory Extended X-ray Absorption Fine Structure measurements"
(「ラボラトリEXAFSのための高強度ー低電圧x線源」(Rev.Sci.Instrum.64,2702(1993)) へのコメント)

桜井健次, 桜井仁, Kenji Sakurai, Hitoshi Sakurai.
Review of Scientific Instruments 65 [7] 2417-2418. 1994.

NIMS著者


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      作成時刻: 2017-03-13 20:33:38 +0900更新時刻: 2024-06-03 10:02:29 +0900

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