Commento on "High intensity low tube-voltage X-ray source for laboratory Extended X-ray Absorption Fine Structure measurements"
(「ラボラトリEXAFSのための高強度ー低電圧x線源」(Rev.Sci.Instrum.64,2702(1993)) へのコメント)
著者 | 桜井健次, 桜井仁, Kenji Sakurai, Hitoshi Sakurai. |
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掲載誌名 | Review of Scientific Instruments 65 [7] 2417-2418 |
出版社 | |
発表年 | 1994 |
言語 | English |
DOI | https://doi.org/10.1063/1.1144701 |
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