Wavelength-dispersive total-reflection X-ray fluorescence with an efficient Johansson spectrometer and an undulator X-ray source | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

HOME > 論文 > 書誌詳細

Wavelength-dispersive total-reflection X-ray fluorescence with an efficient Johansson spectrometer and an undulator X-ray source
(高効率ヨハンソン型分光器とアンジュレータ放射光を用いた波長分散型全反射蛍光X線分析：10の-16グラムレベル微量金属の検出)

Kenji Sakurai, Hiromi Eba, Katsuaki Inoue, Naoto Yagi.

Analytical Chemistry 74 [17] 4532-4535. 2002.

https://doi.org/10.1021/ac025720y

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2016-05-24 11:48:49 +0900 更新時刻: 2026-11-01 04:14:48 +0900

▲ページトップへ移動