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著者名Konstantin L. Firestein, Dmitry G. Kvashnin, Joseph F.S. Fernando, Chao Zhang, Dumindu P. Siriwardena, Pavel B. Sorokin, Dmitri V. Golberg.
タイトルCrystallography-Derived Young’s Modulus and Tensile Strength of AlN Nanowires as Revealed by in Situ Transmission Electron Microscopy
掲載誌名Nano Letters 19 [3] 2084-2091
ISSN: 15306984
発表年2019
言語English
ESIでのカテゴリ
DOIhttps://doi.org/10.1021/acs.nanolett.9b00263
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