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| 著者名 | Konstantin L. Firestein, Dmitry G. Kvashnin, Joseph F.S. Fernando, Chao Zhang, Dumindu P. Siriwardena, Pavel B. Sorokin, Dmitri V. Golberg. |
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| タイトル | Crystallography-Derived Young’s Modulus and Tensile Strength of AlN Nanowires as Revealed by in Situ Transmission Electron Microscopy |
| 掲載誌名 | Nano Letters 19 [3] 2084-2091 ISSN: 15306984 |
| 発表年 | 2019 |
| 言語 | English |
| ESIでのカテゴリ | |
| DOI | https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.9b00263 |
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