Measurement of atanic forces between surface atoms using an ultra-clean AFM incorporated in an XHV integrated system
(XHV一貫プロセスに接続設置した超清浄AFMによる表面原子間力の測定)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2016-05-24 11:38:49 +0900 更新時刻: 2018-06-06 10:10:02 +0900