HOME > 論文 > 書誌詳細Measurement of atanic forces between surface atoms using an ultra-clean AFM incorporated in an XHV integrated system(XHV一貫プロセスに接続設置した超清浄AFMによる表面原子間力の測定)TOSA, Masahiro. Advances in Colloid and Interface Science 71 233. 1997.NIMS著者土佐 正弘Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 11:38:49 +0900更新時刻: 2018-06-06 10:10:02 +0900