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著者名Hirofumi Matsuhata, Hirotaka Yamaguchi, Tamotsu Yamashita, Toshiaki Tanaka, Bin Chen, Takashi Sekiguchi.
タイトルContrast analysis of Shockley partial dislocations in 4H-SiC observed by synchrotron Berg–Barrett X-ray topography
掲載誌名Philosophical Magazine 94 15 1674 1685
ISSN: 14786435 14786443
発表年2014
言語English
DOI10.1080/14786435.2014.894646
ESIでのカテゴリMATERIALS SCIENCE
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