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XPSエネルギー軸目盛り較正法に関するISO 規格.”表面化学状態分析ーX線光電子分光装置ーエネルギー軸目盛りの校正(ISO15472)”
(ISO standard on Calibration of energy scale for XPS.)

橋本哲, 田沼繁夫, 橋本哲.
Journal of Surface Analysis 8 [2] 166-172. 2001.

NIMS author(s)


    Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)


      Created at: 2016-05-24 11:45:09 +0900 Updated at: 2018-12-14 21:59:45 +0900

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