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放射光X線ナノCTによる電子デバイスの信頼性解析:MLCCの電極構造形成プロセス
(Reliability analysis of electronic device by using synchrotron X-ray nano-CT : Microstructural evolution of electrodes of MLCC)

大熊 学, 斎藤 直哉, 水野 高太郎, 若井 史博.
Ceramics Japan 39-43. 2021.

NIMS著者


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    作成時刻: 2021-01-06 03:00:18 +0900更新時刻: 2021-01-06 03:00:18 +0900

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