HOME > 論文 > 書誌詳細X線コンプトン散乱を用いた電子状態測定の新たな展開(X-ray Compton Scattering Study of Electronic States)山瀬 博之, 櫻井 吉晴. 日本物理学会誌 78 4-12. 2023.NIMS著者山瀬 博之Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2023-09-29 03:21:42 +0900更新時刻: 2023-10-10 11:09:13 +0900
