HOME > Article > DetailX線コンプトン散乱を用いた電子状態測定の新たな展開(X-ray Compton Scattering Study of Electronic States)山瀬 博之, 櫻井 吉晴. 日本物理学会誌 78 4-12. 2023.NIMS author(s)YAMASE, HiroyukiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2023-09-29 03:21:42 +0900 Updated at: 2023-10-10 11:09:13 +0900