Microstructure and Electronic Structure characterization of β-FeSi2 on Si (111) Surface by in situ Ultrahigh Vacuum Transmissio | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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Microstructure and Electronic Structure characterization of β-FeSi2 on Si (111) Surface by in situ Ultrahigh Vacuum Transmissio
(その場UHV-TEMによるSi(111)上のβ-FeSi2 の構造及び電子状態の評価)

Qi Zhang, Miyoko Tanaka, Masaki Takeguchi, Ming Han, Kazuo Furuya.

Japanese Journal of Applied Physics 42 [Part 1, No. 7B] 4667-4670. 2003.

https://doi.org/10.1143/jjap.42.4667

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作成時刻: 2016-05-24 11:49:31 +0900更新時刻: 2024-04-30 06:02:26 +0900

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