The Local Structure of the BiS2 Layer in RE(O,F)BiS2 Determined by In-Plane Polarized X-ray Absorption Measurements
G. M. Pugliese, L. Tortora, E. Paris, T. Wakita, K. Terashima, A. Puri, M. Nagao, R. Higashinaka, T. D. Matsuda, Y. Aoki, T. Yokoya, T. Mizokawa, N. L. Saini.
