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Local electrical properties of n-AlInAs/i-GaInAs electron channel structures characterized by theprobe-electron-beam-induced current technique
(プローブEBIC 法によるn-AlInAs/i-GaInAs電子チャネル構造の局所電気特性評価)

Kentaro Watanabe, Takeshi Nokuo, Jun Chen, Takashi Sekiguchi.
Microscopy 63 [2] 161-166. 2014.

NIMS著者


    Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


      作成時刻 :2016-05-24 17:14:12 +0900 更新時刻 :2020-11-16 22:43:53 +0900

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