表面界面に埋め込まれた ナノスケール薄膜・ナノワイヤーの定量的構造研究
(Synchrotron X-ray Diffraction Studies of Nanoscale Thin Films and Wires)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻 :2016-05-24 17:05:32 +0900 更新時刻 :2024-03-29 17:32:22 +0900