表面界面に埋め込まれた ナノスケール薄膜・ナノワイヤーの定量的構造研究
(Synchrotron X-ray Diffraction Studies of Nanoscale Thin Films and Wires)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2016-05-24 17:05:32 +0900 更新時刻: 2026-08-19 04:15:17 +0900