HOME > 論文 > 書誌詳細Crystalinity and thickness control of epitaxial ultra-thin Al2O3 film(極薄エピタキシャルアルミナ膜の結晶性と膜厚の制御)M Yoshitake, B Mebarki, T.T Lay. Surface Science 511 [1-3] L313-L318. 2002.https://doi.org/10.1016/s0039-6028(02)01567-4 NIMS著者吉武 道子Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 11:46:49 +0900更新時刻: 2024-05-02 10:07:32 +0900
