HOME > 論文 > 書誌詳細Measurement of Bias Voltage Dependence of Local Barrier Height at Constant Tip-Sample Separation(局所ポテンシャル障壁高さの電圧依存性の測定)Shinjiro Yagyu, Michiko Yoshitake. Surface Science 532-535 1136-1139. 2003.https://doi.org/10.1016/s0039-6028(03)00407-2 NIMS著者柳生 進二郎吉武 道子Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 11:57:53 +0900 更新時刻: 2026-04-26 05:50:18 +0900