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著者名D. Golberg, M. Mitome, K. Kurashima, C. Y. Zhi, C. C. Tang, Y. Bando, O. Lourie.
タイトルIn situ electrical probing and bias-mediated manipulation of dielectric nanotubes in a high-resolution transmission electron microscope
掲載誌名Applied Physics Letters 88 [12] 123101
ISSN: 10773118 00036951
発表年2006
言語English
ESIでのカテゴリPHYSICS
DOIhttps://doi.org/10.1063/1.2186987
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