Combined Liquid-Metal-Ion-Source and Scanning Tunneling Microscope with Electrical Measurement Probes for Operation at Cryogenic | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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Combined Liquid-Metal-Ion-Source and Scanning Tunneling Microscope with Electrical Measurement Probes for Operation at Cryogenic
(低温下における電気的特性測定プローブを持つ液金金属イオン源及び走査トンネル顕微鏡の複合装置)

UCHIHASHI, Takashi, NEJO, Hitoshi, 永田正明.

Review of Scientific Instrumentation(Rev.Sci.Instrum) . 1996.

NIMS著者

内橋隆

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2022-09-05 10:46:25 +0900更新時刻: 2022-09-05 10:46:25 +0900

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