Position and size controlled fabrication of nano-metals and –semiconductors with fine focused electron beam | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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Position and size controlled fabrication of nano-metals and –semiconductors with fine focused electron beam
(集束電子線による位置と大きさを制御したナノ金属・半導体の作製)

FURUYA, Kazuo, MITSUISHI, Kazutaka, SHIMOJO, Masayuki, TAKEGUCHI, Masaki.

Reviews on Advanced Materials Science (RAMS) Journal 381-386. 2003.

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2022-11-15 00:41:00 +0900 更新時刻: 2022-11-15 00:41:00 +0900

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