HOME > 論文 > 書誌詳細Hole gas accumulation in Si/Ge core–shell and Si/Ge/Si core–double shell nanowiresXiaolong Zhang, Wipakorn Jevasuwan, Ken C. Pradel, Thiyagu Subramani, Toshiaki Takei, Naoki Fukata. Nanoscale 10 [45] 21062-21068. 2018.https://doi.org/10.1039/c8nr05590d NIMS著者ジェバスワン ウイパコーンスブラマニ ティヤグ深田 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2019-03-01 11:49:20 +0900更新時刻: 2024-04-02 01:40:26 +0900
