HOME > 論文 > 書誌詳細大角度走査透過暗視野像のマルチスライス法による計算(HAADF-STEM image calculation using multislice method)三石 和貴, 古屋 一夫. 日本電子顕微鏡学会誌 36 [1] 28-30. 2001.NIMS著者三石 和貴Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 11:51:53 +0900 更新時刻: 2018-12-14 22:16:24 +0900
