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著者名Yong-zhao Yao, Takashi Sekiguchi, Naoki Ohashi, Yutaka Adachi, Takeshi Ohgaki.
タイトルPhotoluminescence and x-ray diffraction measurements of InN epifilms grown with varying In∕N ratio by plasma-assisted molecular-beam epitaxy
掲載誌名Applied Physics Letters 92 21 211910
ISSN: 00036951 10773118
発表年2008
言語English
DOI10.1063/1.2937833
ESIでのカテゴリPHYSICS
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