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著者名Makoto Suzuki, Yusuke Ominami, Takashi Sekiguchi, Cary Y. Yang.
タイトルSecondary electron imaging of embedded defects in carbon nanofiber via interconnects
掲載誌名Applied Physics Letters 93 26 263110
ISSN: 00036951 10773118
発表年2008
言語English
DOI10.1063/1.3063053
ESIでのカテゴリPHYSICS
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