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著者名Bin Chen, Jun Chen, Yuanzhao Yao, Takashi Sekiguchi, Hirofumi Matsuhata, Hajime Okumura.
タイトルIn situ monitoring of stacking fault formation and its carrier lifetime mediation in p-type 4H-SiC
掲載誌名Applied Physics Letters 105 4 042104
ISSN: 00036951 10773118
発表年2014
言語English
DOI10.1063/1.4891834
ESIでのカテゴリPHYSICS
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