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Domain wall thickness variations of ferroelectric BaMgF4 single crystals in the tip fields of an atomic force microscope

H. R. Zeng, K. Shimamura, E. A. G. Villora, S. Takekawa, K. Kitamura, G. R. Li, Q. R. Yin.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2016-05-24 15:42:55 +0900更新時刻: 2024-04-01 19:14:20 +0900

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