HOME > 論文 > 書誌詳細Electron-beam-induced deposition using a subnanometer-sized probe of high-energy electrons(サブナノメートルプローブを用いた電子線励起蒸着)K. Mitsuishi, M. Shimojo, M. Han, K. Furuya. Applied Physics Letters 83 [10] 2064-2066. 2003.https://doi.org/10.1063/1.1611274 NIMS著者三石 和貴Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 11:58:29 +0900 更新時刻: 2026-09-28 04:30:47 +0900