HOME > 論文 > 書誌詳細ZnO low-dimensional structures: electrical properties measured inside a transmission electron microscope(ZnO低次元構造:電気特性の透過電子顕微鏡内での測定)Pedro M. F. J. Costa, Dmitri Golberg, Guozhen Shen, Masanori Mitome, Yoshio Bando. Journal of Materials Science 43 [4] 1460-1470. 2008.https://doi.org/10.1007/s10853-007-2307-1 NIMS著者三留 正則板東 義雄Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 15:35:57 +0900 更新時刻: 2025-12-21 05:42:04 +0900