In situ spectroscopic measurement of transmitted light related to defect formation in SiO2 during femtosecond laser irradiation | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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In situ spectroscopic measurement of transmitted light related to defect formation in SiO2 during femtosecond laser irradiation
(フェムト秒レーザー照射中のSiO2における欠陥生成に関する透過光のその場分光測定)

N. Fukata, Y. Yamamoto, K. Murakami, M. Hase, M. Kitajima.

Applied Physics Letters 83 [17] 3495-3497. 2003.

https://doi.org/10.1063/1.1623939

NIMS著者

深田直樹

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2016-05-24 11:59:11 +0900更新時刻: 2024-03-29 23:05:25 +0900

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