HOME > 論文 > 書誌詳細Clear Experimental Demonstration of Hole Gas Accumulation in Ge/Si Core–Shell Nanowires(Ge/Si コアシェルナノワイヤ中のホールガス蓄積の実験的実証)Naoki Fukata, Mingke Yu, Wipakorn Jevasuwan, Toshiaki Takei, Yoshio Bando, Wenzhuo Wu, Zhong Lin Wang. ACS Nano 9 [12] 12182-12188. 2015.https://doi.org/10.1021/acsnano.5b05394 NIMS著者深田 直樹ジェバスワン ウイパコーン板東 義雄Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2016-05-24 18:04:33 +0900 更新時刻 :2020-11-16 22:38:08 +0900