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Developments of scanning probe microscopy with stress/strain fields

著者H. X. Guo, D. Fujita.
掲載誌名Review of Scientific Instruments 82 [12] 123706
ISSN: 00346748, 10897623
ESIでのカテゴリ: CHEMISTRY
出版社AIP Publishing
発表年2011
言語English
DOIhttps://doi.org/10.1063/1.3669526
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