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NIMS Award Symposium 2026

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蒸留分離・吸光光度法による高純度酸化鉄中の微量ケイ素の定量
(Determination of Trace Silicon in Pure Iron Oxide by Distillation-Spectrohotometry)

山口 仁志, Takeshi Kobayashi, 中村佳右, 大河内春乃, Yoshisuke Nakamura, Haruno Okochi, 山口 仁志, 小林 剛, 中村佳右, 大河内春乃.

NIMS author(s)


    Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)


      Created at: 2016-05-24 11:29:13 +0900 Updated at: 2019-03-26 03:56:55 +0900

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