走査SQUID顕微鏡による酸化物超伝導薄膜中の磁束・電流・欠陥の同時評価
(Characterization of Superconducting Thin Films by Scanning SQUID Microscopy)

著者	Shunichi Arisawa, Kyungsung Yun, Ienari Iguchi, Takeshi Hatano, Kazuhiro Endo, Tetsuji Uchiyama, Hiroshi Kezuka.
掲載誌名	電気学会論文誌Ｅ（センサ・マイクロマシン部門誌） 133 [10] 312-313
出版社	一般社団法人 電気学会
発表年	2013
言語	Japanese
DOI	https://doi.org/10.1541/ieejsmas.133.312
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