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走査SQUID顕微鏡による酸化物超伝導薄膜中の磁束・電流・欠陥の同時評価
(Characterization of Superconducting Thin Films by Scanning SQUID Microscopy)

Shunichi Arisawa, Kyungsung Yun, Ienari Iguchi, Takeshi Hatano, Kazuhiro Endo, Tetsuji Uchiyama, Hiroshi Kezuka.
電気学会論文誌Ｅ（センサ・マイクロマシン部門誌） 133 [10] 312-313. 2013.
https://doi.org/10.1541/ieejsmas.133.312

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      作成時刻: 2016-05-24 16:58:10 +0900更新時刻: 2024-04-02 03:17:36 +0900

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