HOME > 論文 > 書誌詳細Determination of interfacial tensions for Xe nanoprecipitates in Al at 300 K(300KにおいてAl中のXeナノ析出物表面張力の測定)C. W. Allen, R. C. Birtcher, S. E. Donnelly, M. Song, K. Mitsuishi, K. Furura, U. Dahmen. Philosophical Magazine Letters 83 [1] 57-64. 2003.https://doi.org/10.1080/0950083021000045733 NIMS著者三石 和貴Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 12:02:12 +0900 更新時刻: 2026-10-01 05:11:09 +0900
