Transmission electron microscopy study of the microstructure of B19 martensite in sputter-deposited Ti50.2Ni30Cu19.8 thin films | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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Transmission electron microscopy study of the microstructure of B19 martensite in sputter-deposited Ti50.2Ni30Cu19.8 thin films
(Ti50.2Ni30Cu19.8スパッタ膜のB19マルテンサイトの微細組織に関するTEM研究)

X MENG, M SATO, A ISHIDA.

Scripta Materialia 59 [4] 451-454. 2008.

https://doi.org/10.1016/j.scriptamat.2008.04.023

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作成時刻: 2016-05-24 15:27:30 +0900 更新時刻: 2026-09-30 05:38:07 +0900

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