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NIMS Awardシンポジウム2026

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Evaluation of Electron Damage at Specimen Surface in Auger Microprobe Analysis
(オージェ電子分光法による電子線照射損傷の評価)

KIMURA, Takashi, TANUMA, Shigeo, 鈴木峰晴, 三浦薫, 橋本哲, 井上雅彦, 吉原一紘, 鈴木峰晴, 三浦薫, 橋本哲, 井上雅彦, 吉原一紘.

NIMS著者


    Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


      作成時刻: 2022-11-15 00:40:21 +0900 更新時刻: 2022-11-15 00:40:21 +0900

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