HOME > 論文 > 書誌詳細High-Resolution Transmission Electron Microscopy of Planar Defects Ca-Doped YBCO/(1-2-4) High-Tc Superconductors Y1-xCaxBa2Cu4O松井良夫, 柳沢佳寿美, 泉富士夫, 堀内繁雄, 山田裕, 松本武彦, 池田省三, 児玉泰治. Journal of Electron Microscopy 221-228. 1991.NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-09-05 10:33:19 +0900 更新時刻: 2022-09-05 10:33:19 +0900
