Precise Scanning Tunneling Microscopy Images of Si(100) Surface Dimers at 4.2 K
(4.2Kで観察されるSi(100)表面ダイマーのSTM像)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2016-05-24 11:53:38 +0900 更新時刻: 2026-10-08 07:47:00 +0900