Nano-analysis by a high resolution energy filtering transimission electron microscope | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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Nano-analysis by a high resolution energy filtering transimission electron microscope
(高分解能エネルギーフィルター透過電子顕微鏡によるナノ解析)

Masanori Mitome, Yoshio Bando, Dmitri Golberg, Keiji Kurashima, Yoshihiro Okura, Toshikatsu Kaneyama, Mikio Naruse, Yoshiaki Honda.

Microscopy Research and Technique 63 [3] 140-148. 2004.

https://doi.org/10.1002/jemt.20025

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2016-05-24 11:58:16 +0900更新時刻: 2024-05-02 07:05:55 +0900

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