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著者名Chun Li, Yoshio Bando, Dmitri Golberg.
タイトルCurrent Imaging and Electromigration-Induced Splitting of GaN Nanowires As Revealed by Conductive Atomic Force Microscopy
掲載誌名ACS Nano 4 [4] 2422-2428
ISSN: 19360851 1936086X
発表年2010
言語English
ESIでのカテゴリCHEMISTRY
DOIhttps://doi.org/10.1021/nn100223j
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