Kristen M. Burson; William G. Cullen; Shaffique Adam; Cory R. Dean; K. Watanabe; T. Taniguchi; Philip Kim; Michael S. Fuhrer

doi:10.1021/nl4012529

Direct Imaging of Charged Impurity Density in Common Graphene Substrates

著者	Kristen M. Burson, William G. Cullen, Shaffique Adam, Cory R. Dean, K. Watanabe, T. Taniguchi, Philip Kim, Michael S. Fuhrer.
掲載誌名	Nano Letters 13 [8] 3576-3580 ISSN: 15306984 ESIでのカテゴリ: PHYSICS
出版社	American Chemical Society (ACS)
発表年	2013
言語	English
DOI	https://doi.org/10.1021/nl4012529
この文献をMendeleyにインポート