走査型トンネル電子顕微鏡によるナノスケール“仕事関数”の電圧依存性の測定
(Bias Voltage Dependence of “Work Function” at Nanometer-Scale)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2016-05-24 11:53:29 +0900 更新時刻: 2026-09-30 04:24:36 +0900