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Optical and Optoelectronic Property Analysis of Nanomaterials inside Transmission Electron Microscope

Joseph F. S. Fernando, Chao Zhang, Konstantin L. Firestein, Dmitri Golberg.
Small 13 [45] 1701564. 2017.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2017-12-16 20:47:00 +0900更新時刻: 2024-12-07 05:00:04 +0900

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