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著者名Joseph F. S. Fernando, Chao Zhang, Konstantin L. Firestein, Dmitri Golberg.
タイトルOptical and Optoelectronic Property Analysis of Nanomaterials inside Transmission Electron Microscope
掲載誌名Small 13 [45] 1701564
ISSN: 16136829 16136810
発表年2017
言語English
ESIでのカテゴリ
DOIhttps://doi.org/10.1002/smll.201701564
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