集束イオンビームを用いたマイクロ粒子の精密配列
(An arrangement of micrometer Scale particles on Substrates by electritied dots drann with a focused ion beam)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2016-05-24 11:38:41 +0900更新時刻: 2018-12-14 23:27:47 +0900