HOME > 論文 > 書誌詳細Photoconductivity Evolution Due to Carrier Trapping by Defects in 17MeV-Proton Irradiation(17MeVプロトン照射におけるSi格子欠陥のキャリヤー捕獲による光伝導変遷過程)Hiroshi Amekura, 岸本直樹, 斎藤鉄哉, Naoki Kishimoto, Tetsuya Saito. Journal of Applied Physics 77 [10] 4984-4992. 1995.https://doi.org/10.1063/1.359307 NIMS著者雨倉 宏Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 11:34:59 +0900 更新時刻: 2026-10-01 05:04:29 +0900